现代材料织构分析体系

来源 :第六届全国X射线分析学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gaorongqing
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
其他文献
通过一种NPN晶体管阵列电路的研制,给出了其工艺特点及难点,并经过多次版图设计及工艺设计优化,最终得到了满足使用要求的器件。
DEAwithUnreducibleInputsandUnexpansibleOutputsLIGuangjinLIUYongqingAutomationDept.SouthChinaUniversityofTech.Guangzhou,510641... DEA with Unimpleucputputs and Unpublished canputsLIGuangjinLIUYongqingAutomationDept. SouthChinaUniversityofTech. Guangzhou,
期刊
该文提出利用晶体的规则排列作计量光栅,用高空间分辨显微分析技术(HREM)记录晶体的结构像,HREM照片与普通光栅叠加,并利用傅立叶滤波技术倍增条纹,得到了高质量的,具有亚原子量级分
NTD Si材料与原始单晶硅相比,其缺陷和位错有所增加,特别是EPR缺陷增加显著,电阻率增加20%左右,150(?)·cm以上的电阻率曲线还存在一个较弱的吸收峰值。辐照处理后的NTD Si材
会议
会议
For the high peak-to-average power ratio(PAPR) of coherent optical orthogonal frequency division multiplexing(CO-OFDM) system, a novel joint technique which is