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本文提出了一种对a-Si薄膜晶体管逻辑电路可靠性进行仿真的方法，并对两种不同的反相器电路进行了分析和比较。结果表明，虽然bootstrap反相器初始直流输出特性较好，但是长时间运行后由于电路中薄膜晶体管器件阈值电压的漂移，其输出特性恶化的程度要大于正常形式的反相器电路。
a-Si薄膜晶体管逻辑电路的可靠性仿真与研究
【摘 要】
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本文提出了一种对a-Si薄膜晶体管逻辑电路可靠性进行仿真的方法，并对两种不同的反相器电路进行了分析和比较。结果表明，虽然bootstrap反相器初始直流输出特性较好，但是长时间运
【机 构】
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上海交通大学,上海,200240
【出 处】
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2010中国平板显示学术会议
【发表日期】
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2010年期
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