离子注入掺铒硅光致发光及其退火特性

来源 :第十届全国半导体集成电路、硅材料学术会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:l541306072
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利用低温光荧光技术研究了掺铒硅样品的光致发光特性。硅衬底室温离子注入铒离子,经过低温退火后,样品的发光强度视温退火温度变化而改变,当退火温度伙800℃-900℃时,其1.54μm发光最强。测量样品的变温光致发光谱,PL强度随测量温度的升高而衰减,在130K温度下仍可看到其1.54μm发光峰。研究掺铒硅PL强度随激发功率的变化表明:在低激发功率下(〈40mW),发光强度随激发功率增加而递增,当功率超过50mW时,发光强度趋于饱和。
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