GIC4117串列加速器外束PIXE/PIGE分析系统

• 作 者: 王广甫[1]李旭芳[2]初钧晗[2]于令达[2]安坤[2]吴冰冰[2]
• 机 构: 射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京师范大学核科学技术学院,北京 100875
• 出 处: 第十三届高功率粒子束暨第八届全国高压加速器学术交流会
• 发表日期: 2012年期

　　在北京师范大学GIC4117 串列加速器上建立了外束PIXE/PIGE 分析系统,并介绍了基于此系统的薄样品外束PIXE/PIGE 定量分析方法.给出了2010 年采集在Teflon 滤膜的361 个气溶胶样品外束PIXE 分析各元素的平均探测限和最低探测限,并同真空PIXE 分析探测限进行了比较.利用标准样品给出了激发曲线不同坪区薄样品外束PIGE 分析F 和Na 的探测限,19F(p,p’γ)19F 激发的197keV 的γ射线分析19F 的探测限可达73.9 ng·cm-2；23Na 元素探测限可达198.9 ng·cm-2.