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基于梯度算法的子孔径拼接检测技术
【机 构】
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南京理工大学电子工程与光电技术学院江苏南京210094
【出 处】
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第十七届全国光学测试学术交流会
【发表日期】
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2018年8期
其他文献
随着大口径凸非球面光学元件被广泛应用于各类精密的光学系统中，其面形检测的难题日益凸显。当"大口径"的定义发生了变化，传统的测试方法已无法满足需求。
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