【摘 要】
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采用固相烧结工艺制备了SrBiLaTiO(x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75,1.00)陶瓷样品.用X射线衍射仪对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能.结果表明,随着La含量的增加,样
【机 构】
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扬州大学物理科学与技术学院(江苏扬州)
【出 处】
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2003年第十届全国电介质物理与功能材料学术会议
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采用固相烧结工艺制备了Sr<,2>Bi<4-x>La<,x>Ti<,5>O<,18>(x=0.00,0.10,0.25,0.50,0.75,1.00)陶瓷样品.用X射线衍射仪对其微结构进行了分析,并测量了其铁电、介电性能.结果表明,随着La含量的增加,样品的剩余极化P<,r>和矫顽场E<,c>逐渐减小,这是由于La掺杂使得样品晶格畸变变小,从而导致剩余极化的降低.相变温度T<,c>随着La含量的增加而降低,这也与样品晶格畸变有关.
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