探讨线性回归方法在电子探针能谱定量分析中应用的可行性

• 作 者: 陈凡[1]高静[2]
• 机 构: 北京联大机械工程学院
• 出 处: 中国电子显微镜学会第二届全国微束分析学术会
• 发表日期: 1988年期
• 关键词: 线性回归 电子探针 定量分析 X射线荧光光谱法 解析

在剖析了原级X射线和荧光X射线本质上同一性的基础上，将荧光X射线光谱分析中的基本思想方法类比地移植到原级X射线光谱分析中。从电子激发原级X射线的物理图象出发，建立原级X射线光谱分析中的线性回归方法的数学解析方程，并将此方法引入电子探针对多元粉末压块样品定量分析中，获得了相对误差2.16℅、3.70℅、0.66℅（相对于化学分析值）理想的实验结果，进而确认了此方法在实验物理中的可行性。该文宗旨在于试图对原级X射线光谱分析方法的延拓赋予新的思考。（本刊录）