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研究和探讨不同封装材料对N型单晶组件老化性和可靠性的影响。单晶实验组件分别采用EVA和POE作为封装材料，然后将组件进行加速老化测试和户外曝晒测试。加速老化测试主要包括UV、DH、TC、HF和PID测试。老化后组件的衰减特性主要通过功率衰减数据、EL图的变化和封装材料与玻璃间粘接强度进行研究。最后，所有测试数据表明POE是一种可以替代EVA的优良的封装材料。