【摘 要】
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光伏组件的电位诱发衰减(Potential Induced Degradation,PID)现象普遍认为存在于晶体硅光伏组件中.PID现象会造成组件的光伏性能的持续衰减,引起的组件功率衰减有时甚至超过
【出 处】
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第十四届中国光伏大会暨2014中国国际光伏展览会
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光伏组件的电位诱发衰减(Potential Induced Degradation,PID)现象普遍认为存在于晶体硅光伏组件中.PID现象会造成组件的光伏性能的持续衰减,引起的组件功率衰减有时甚至超过50％,严重影响到组件的功率输出,而从组件外观上却看不到任何缺陷.PID现象引起广泛的关注,但行业内薄膜组件的PID相关的研究较少,本文主要研究PID对硅基薄膜太阳电池组件的影响.
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