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采样MOS开关的沟道电荷注入效应是影响模数转换器采样精度的重要因素之一,本文利用开关-电容结构的底板采样技术,通过对时钟的控制,有效消除了沟道电荷注入效应.
底板采样与时钟控制在流水线型ADC中的应用
【摘 要】
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采样MOS开关的沟道电荷注入效应是影响模数转换器采样精度的重要因素之一,本文利用开关-电容结构的底板采样技术,通过对时钟的控制,有效消除了沟道电荷注入效应.
【机 构】
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中国科学院半导体研究所(北京)
【出 处】
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第十三届全国半导体集成电路、硅材料学术会
【发表日期】
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2003年12期
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