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该实验使用国产硅单晶，经腐蚀、涂胶、电极蒸发等工序，制成小型探测器。然后进行伏安特性测量，省去能量分辨测试，其原因是探测器小的漏电流一般具有良好的能量分辨。初步实验表明，用该法检验硅材料的质量行之有效，其优点是简便：省去封装工序、不测能谱；可靠：金硅面垒技术较成熟；对同一断面上的硅材料的均匀性可给出估价；省料：取1至2片硅片可制出10-20个小探测器。（王太和摘）