TGS的铁电老化和历史记忆效应

• 作 者: 罗劲明 陈敏 沈韩 李景德 朱贵文
• 机 构: 中山大学物理系,广州,510275
• 出 处: 第十一届全国电介质物理、材料与应用学术会议
• 发表日期: 2005年期
• 关键词: 铁电老化 微分电滞回线 水分子吸附 自然老化 隐性 样品 形成缺陷 老化特性 晶体 环境空气 显性化 热处理 形状 微区 体内 水解 晶片 峰高 单晶 测量

测量了经18年自然老化后的TGS单晶的微分电滞回线,发现回线的形状与未老化的样品类似,故称其为隐性老化.老化的样品经热处理后,回线峰位,峰高出现显著变化,甚至出现双峰,表现出明显的老化特性,隐性老化被显性化了.老化的原因可归结为环境空气中的水分子吸附在晶片四周表面上,使晶体有些微区水解形成缺陷;以及这些缺陷向晶体内的扩散.