基于Geant4的正电子寿命谱符合探测系统的蒙特卡洛模拟研究

来源 :第十三届全国正电子谱学会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:chendegeng1234
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  正电子湮没技术(Positron Annihilation Technique,简称PAT)是一种从上世纪60年代发展起来的主要应用于固体物理和材料科学研究的无损探测技术.正电子与材料相互作用,其湮没寿命和动量与材料的电子结构和缺陷分布紧密相关.表征这两个物理量的正电子湮没技术主要包括四种实验方法,即正电子湮没寿命谱、正电子湮没辐射角关联,多普勒展宽谱和慢正电子束技术.其中,常规正电子湮没寿命谱仪系统主要由22Na源、两个闪烁体探头、电子学以及离线数据分析软件组成.本工作主要利用蒙特卡洛模拟软件Geant4(版本Geant4.10.01)对正电子寿命谱符合探测系统进行了优化设计.Geant4是由欧洲核子中心(CERN)主导开发的一套基于C++面向对象编程技术的Monte Carlo模拟程序包.该程序提供了种类全面的粒子与物质相互作用截面数据库,丰富的物理反应模型,以及构造材料和几何的方法与接口.用户可以基于此对探测器的材料选择、几何和空间摆放进行优化设计.
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