【摘 要】
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室温下,采用能量为2MeV的Xe离子对熔盐堆用燃料基体石墨进行了辐照试验。采用拉曼光谱和慢正电子束研究了辐照对基体石墨微观结构和缺陷产生的影响,得到了正电子湮没S参
【机 构】
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中国科学院上海应用物理研究所,上海,201800中国科学技术大学,核电子学与探测技术重点实验室,合肥230026
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室温下,采用能量为2MeV的Xe离子对熔盐堆用燃料基体石墨进行了辐照试验。采用拉曼光谱和慢正电子束研究了辐照对基体石墨微观结构和缺陷产生的影响,得到了正电子湮没S参数随正电子入射能量E的变化曲线,分析了辐照缺陷浓度随深度和剂量的变化规律,并与SRIM模拟的辐照损伤随深度的分布结果进行了对比。拉曼光谱表明：随着辐照剂量的增加,辐照样品的D峰(1350cm-1)和G峰(1580cm-1)相对于未辐照样品的峰位发生了移动,伴随着展宽；ID/IG增大,表明辐照引入的缺陷浓度和无序度增大。慢正电子束实验表明：Xe离子辐照在燃料元件基体内引入一个深度约为1000nm的辐照缺陷层,且峰值出现在离表面约640nm的深度,辐照样品损伤层S参数的显著增加表明辐照引入了高浓度的空位型缺陷；且随着辐照剂量的增加,S参数升高表明损伤层内空位型缺陷的浓度增大,与拉曼的分析结果一致。
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