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本文针对我国目前星敏感器的发展状况,对星敏感器用CCD器件的抗辐射特性进行研究,利用Co<60>γ射线对SONY公司ICX285AL芯片进行辐照试验,完成星敏感器用CCD器件的初步摸底试验,为星敏感器加固奠定基础。
星敏感器用CCD抗辐射加固技术研究
【摘 要】
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本文针对我国目前星敏感器的发展状况,对星敏感器用CCD器件的抗辐射特性进行研究,利用Coγ射线对SONY公司ICX285AL芯片进行辐照试验,完成星敏感器用CCD器件的初步摸底试验,为
【机 构】
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上海航天控制工程研究所,上海市徐汇区田林路120号,邮编 200233
【出 处】
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第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
【发表日期】
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2007年期
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