氢导致的氧化锌掺铝薄膜光性能受损

• 作 者: 方玲刚[1]钟志成[2]方国家[1]盛苏[1]马爽[1]李春[1]
• 机 构: 武汉大学,教育部声光材料与器件重点实验室,湖北,武汉,430072
• 出 处: 第二届中国可信计算与信息安全学术会议
• 发表日期: 2006年期

报道了一种新的影响透明导电薄膜(氧化锌掺铝)稳定性的现象:由于电解水而引起的氧化还原反应所导致的氧化锌掺铝(AZO)薄膜光性能受损.实验中AZO模拟实际工作情况设计成作为阴极半浸泡在NaOH溶液中电解水.透射光谱表明其透射率极大降低,X-射线和扫描电镜分析表明成分和形貌也有所改变.而这种受损现象是由于电解水而产生的氢原子与AZO薄膜发生了氧化还原反应.