电子设备微小型化高速化对电子变压器的挑战

来源 :中国电子学会电子元件学会变压器专业学组第四届年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:titicool
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会议
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电迁徙参数电流密度因子(n)是预测微电子器件金属化寿命的重要参数,它的测量一直是个难题。该文提出了一种与传统MTE法完全不同的电流斜坡动态测试法(DCR),精确控制金属条温度消除焦耳热影