退火温度对氧化铟锡(ITO)薄膜光电性能的影响

来源 :全国薄膜技术学术研讨会论文摘要集 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liongliong584
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目的:SPM图像分析法可靠性的验证及正常对照基准可靠性的建立,为本研究提供可靠的方法学基础;分别采用SPM法、ROI法及视觉分析法对FDGPET脑显像结果进行分析,比较不同图像分析法在AD诊断中的价值;对不同严重程度AD患者进行FDGPET脑显像,以探讨不同严重程度AD患者大脑葡萄糖代谢的特征性表现;对早发性AD与迟发性AD患者进行FDGPET脑显像,以探讨不同发病年龄AD患者大脑葡萄糖代谢的特征