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在平面偏振场中,加入四分之一波片,作为一个均匀的光载波,与实验模型中的等差线相叠加,可得到n+1/4和n+3/4级等差线。但这样所得到的条纹要受0°等倾线的干扰,使得相应点位的条纹难以直接观测。虽然同步旋转光路系统的各元件可以消除这种干扰,但在暗室中操作既麻烦又容易出错。理论推导和实践结果表明:在光弹性圆偏振场的明视场或暗视场中,在待测模型之前(或后),另加一个四分之一波片,形成一种非明暗的混合视场;使另加入的四分之一波片的快、慢轴与起偏振片和分析片的光轴平行或成45°,可消除等倾线的干扰,获得清晰