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室温下，利用直流对靶磁控溅射设备制备了Ag（x）／Fe（35nm）／Ag（x）系列薄膜，z=1，2，3，4nm．利用扫描探针显微镜（SPM）观测了样品的表面形貌及磁畴结构，应用X射线衍射仪（XRD）分析了样品的晶体结构，通过振动样品磁强计（VSM）测量了样品的磁特性．研究表明，非磁性Ag层厚度对Ag／Fe／Ag系列薄膜的微结构和磁特性有很大的影响．SPM观测显示，随Ag层厚度增加磁畴尺寸呈现先减小后增加的趋势．VSM结果显示，矫顽力的变化与磁畴尺寸的变化趋势是一致的，x=3nm时，垂直膜面矫顽力达到最大．