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用双单色仪组成平面衍射光栅的相对衍射效率测试系统的研究
用双单色仪组成平面衍射光栅的相对衍射效率测试系统的研究
来源 :光学仪器 | 被引量 : 0次 | 上传用户:dusl520
【摘 要】
:
给出了一种用双单色仪组成平面衍射光栅相对衍射效率测试系统的设计方法,分析与探讨了其光学、机械、电子学各部分对系统测量精度产生影响的关键因素及其抑制手段。测试结果
【作 者】
:
邹艳
【机 构】
:
上海光学仪器研究所200093上海
【出 处】
:
光学仪器
【发表日期】
:
1993年3期
【关键词】
:
平面衍射光栅
相对衍射效率
单色仪
Plane Diffraction Grating
Relative Diffraction Efficiency
Mo
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给出了一种用双单色仪组成平面衍射光栅相对衍射效率测试系统的设计方法,分析与探讨了其光学、机械、电子学各部分对系统测量精度产生影响的关键因素及其抑制手段。测试结果及实践证明:该系统各项主要指标较为先进,测试数据可靠稳定。
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