III_A族元素镓(Ga)、铟(In)、铊(Tl)原子的激光增强电离(LEI)光谱及痕量元素的灵敏检测

• 作 者: 张在宣 王林 方晓 袁怿谦 陈俊德
• 机 构: 中国计量学院一系,中国计量学院一系,中国计量学院一系,中国科学院安徽光机所激光光谱学开放实验室,中国科学院安徽光机所激光光谱学开放实验室 杭州 310034,杭州 310034,杭州 310034,2
• 出 处: 量子电子学
• 发表日期: 1991年01期
• 关键词: Ga III_A In LEI Tl 痕量元素 火焰发射光谱 光谱项 激光感生荧光 灵敏检测

激光增强电离(LEI)光谱方法是一种新的光电检测技术。由于它的检测限优于其它光谱测量技术,如原子发射光谱(AES)原子吸收光谱(AAS)、火焰发射光谱(FES)、激光感生荧光(LIF)光谱等。因此,是一

Laser enhanced ionization (LEI) spectroscopy is a new photoelectric detection technique. Its detection limit is superior to other spectroscopic techniques such as atomic emission spectroscopy (AAS), flame emission spectroscopy (FES), laser induced fluorescence (LIF) spectroscopy, and more. So is one