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SOC芯片测试中一个主要的挑战就是处理大量的测试数据.为了减少芯片测试中的测试数据,提出了一种双游程的编码方案,采用变长到变长的编码方式对0游程和1游程进行编码.该算法在编码时同时考虑0游程和1游程,大大减少了测试数据中短游程的数量,同时文中给出了一种基于有限状态机的解压缩算法的实现方案.理论分析和实验结果证明该方案具有高压缩率、硬件实现简单等特点.