基于ARM和FPGA的CCD低噪声测量系统的设计

• 作 者: 陶纯匡 尹刚 汪涛 张世敉 王二刚
• 机 构: 重庆大学数理学院
• 出 处: 电子测量技术
• 发表日期: 2010年3期
• 关键词: CCD ARM FPGA 单缝衍射 CCD ARM FPGA single-slit diffraction

传统的电荷耦合器件（CCD）测量系统,在精度和噪声控制方面都无法满足现代测量的要求。讲述了用ARM为主要控制单元,以FPGA作为时序发生器,同时使用带相关双采样的AD和异步的先进先出（FIFO）存储器来组成一种新型测量系统。并且重点介绍FPGA配合ARM怎样完成高效、灵活的实时采集和传输。并通过单缝衍射实验来验证本系统的高精度和高稳定性。