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SiGe/Si应变层超晶格是一种亚稳态结构,在高温下,原子互扩散导致异质界面展宽,同时,由晶格失配引起的应变会发生弛豫,这两种现象将导致晶格结构的变化。本文证明,利用拉曼散射光谱可以定量地反映这一变化。(1)我们首先把界面峭超晶格中折叠纵声学(FLA)声子的色散关系和散射强度的理论计算推广到界面展宽的情形,然后,我们分析了测量得到的在不同温度下退火的超晶格样品的FLA声子散射谱,通过测量和计算的结