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考虑Ｓｉｅｒｐｉｎｓｋｉ垫片某个特定的子集序列，相应地构造含有整数参数ｋ，覆盖此子集序列诸子集的覆盖序列并利用Ｓｉｅｒｐｉｎｓｋｉ垫片的自相似性得到了以ｋ为序数指标，从第三项起此垫片的Ｈａｕｓｄｏｒｆｆ测度的上界调上升序列，而该序列的第三项即是目前所知道的Ｓｉｅｒｐｉｎｓｋｉ垫片Ｈａｕｓｄｏｒｆｆ测度的新的最好上界。