高分辩二次电子像中的成分衬度

来源 :电子显微学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jiangrc123
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从理论上阐明了获得高分辩二次电子成分衬底像的原理,条件和方法,并作了细致的实验验证,空间分辩率为3.3nm,原子序数分辩率为0.03Z。实验研究样品为分子束外延AlGaAs量子阱顺,其分层结构的最小层宽为7nm,测得的层宽和透射电镜测量结果相吻合,由于透射电镜制样的复杂和困难,高分辩扫描电镜二次电子成分衬度像观测方法具有重要的理论意义和实用价值。
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