论文部分内容阅读
SOC由多个芯核组成,它的测试可以分为系统级和芯核级来解决,也可以从电路结构和测试算法两个方面来进行.测试时间长,测试数据量大,测试功耗高是系统芯片测试的难题.解决这些问题的途径主要有:基于软件和硬件协同测试的方法;对测试向量进行处理的方法;在测试电路中使用翻转较少的触发器的DFT结构;合理的划分片上的可测试资源.还给出了尚需进行的研究工作.