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目前利用专利信息分析进行共性技术识别的方法较少,且建立的指标较单一,基本均是着重测度共性技术对其他技术领域的影响,还缺少较完整的识别方法体系.鉴于这种现状,在详细梳理共性技术定义及特征的基础上,初步构建了基于专利分析识别共性技术的“双层次一多维度”研究框架,从“技术影响范围层面”与“技术研究阶段层面”两个层面。