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本文介绍了太阳能选择性涂层光谱仪的设计原理、结构和光学测量系统,测量系统由试样加热系统、真空系统、光学系统、水冷系统、高精度积分球反射测量系统、温度检测与控制系统和计算机数据采集系统等组成。可用于室温至500℃和400~10,000 nm光谱范围内的光谱发射率特性精密测量,测量精度优于3%。为研究新型太阳能选择性涂层和制造高效率太阳能集热管,提供必要基础。