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本文采用介质谐振器法测量高Tc超导材料微波表面电阻，上下端面被金属板短路的介质谐振器构成TE011模式，将其中一个底板置换为被测超导样品，通过测试其无载品质因素Q0和谐振频率f0的变化，计算测试样品的微波表面电阻，实验证明，这种方法具有重复性好，测试稳定的特点，可以对高Te超导块材和薄膜样品进行非损伤测试。