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本文基于尺度空间理论提出了两种多门限化方法：第一种新方法先由精到粗求直方图在不同尺度下的表征，再由粗到精校正定位，最后由生命期长短来确定门限；第二种方法首先在一粗尺度上找特征结构，再由粗到精“聚焦”到最精尺度上获取门限。两方法克服了以往一般门限法的若干缺陷，不仅定位准确，而且普适性强。实验证明新方法是令人满意的。