集成电路掩模缺陷的检查

来源 :半导体设备 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yhl_2011
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16.1、序言在集成电路制造工艺中,如果集成电路的图形尺寸超过了光的波长,那么用于光刻的光掩模今后也将继续使用。集成电路掩模的检查项目中,包括掩模材料的平面度、图形尺寸和重复节距等的尺寸精度及有无缺陷等。这些项 16.1, Preface In the integrated circuit manufacturing process, the photomask used for lithography will continue to be used in the future if the size of the integrated circuit exceeds the wavelength of light. The inspection items of the integrated circuit mask include the flatness of the mask material, the dimensional accuracy of the pattern size and the repetition pitch, and the presence or absence of defects. These items
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