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进延测试对于高速集成电路非常重要。本文介绍一个带时间参烽的时延测试产生系统。该系统使用一个时刻逻辑值来表示一个波形，并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在０时刻有跳变，其它输入为稳定的０或１，从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生，与以往的不考察时间因素的时延测试产生系统相比，带时间参烽的测试产生提高了故障覆盖率，并且更接近于电路的实际。