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1 问题的提出我所于1994年从日本 Rigaku 公司引进的3550型 X—Ray 荧光光谱仪,拟用于原材料的分析。根据我公司及我所的实际情况,决定先解决进厂铁矿石的分析,因此,我们进行了用 X—Ray 荧光分析铁矿石的可行性实验。由于进厂铁矿石的矿点多,所含化学成分复杂,如果采用粉末样压片分析,粒度效应和