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对纯镍及其表面离子注镧样品在900℃空气中的恒温氧化规律进行研究.用扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）对NiO膜的微观形貌和结构进行测试.用激光拉曼（Raman）光谱仪和X射线衍射仪（XRD）对2种样品表面氧化膜的应力状态进行测量.用次级离子质谱仪（SIMS）对氧化膜内元素Ni、O和La的深度分布情况进行测量.结果表明：离子注镧显著降低了镍的恒温氧化速率,细化了表面NiO膜的晶粒尺寸;同时将氧化膜的生长由注镧前Ni2＋阳离子的向外扩散转变为注镧后O2-阴离子的向内扩散为主.X射线衍射和激光