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在ＺｒＯ２基片上采用对靶偏轴ＣＤ磁控溅射外延生长高温超导ＹＢａＣｕＯ薄膜，利用多层光刻工艺与Ａｒ＾＋铣相结合的混合刻蚀工艺刻蚀薄膜得到微桥样品。液氮温度下，测试薄膜微桥样品的特性，观测到一系列有趣的实验现象：测得这种样品的临界电流ＩＣ与温度Ｔ的经验关系为ＩＣ∞（１－Ｔ．ＴＣ）＾Ｎ，其中Ｎ在２－３．５之间，比常见报道的Ｊｏｓｅｐｈｓｏｎ结的Ｎ值要大。