精益定制助力高效测试测量系统架构

• 作 者: 贾静
• 出 处: 国外电子测量技术
• 发表日期: 2014年11期
• 关键词: 巡回研讨会 测量系统 电子测量 耕耘者 报道文章 高校科研成果 相关产品 国防领域 种板 测量任务

2014年11月18日下午,由中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会（以下简称＂分会＂）、上海聚星仪器有限公司（以下简称＂聚星＂）联合主办的＂精益定制＂您的仪器——测试测量应用及系统架构巡回研讨会北京站在北京丽亭华苑酒店成功召开。来自65余个单位的140余人参与了这场研讨会。此次巡回研讨会分别于11月18日、11月21日、12月2日、12月8日、12月10日在北京、沈阳、上海、广州、厦门5个城市举办。