《玉米科学》1993年总目录——第1卷 第1~4期(总第1~4期)

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$lP玉米叶夹角性状配合力的研究—…………………………………………………·苏书文 白来林 郭新林(1)山东省玉米育种成绩斐然………………………………………………………………………………刘治先(5)玉米根系抗垂直拉力的双列分析—……………………………………·许明学 冯 $ LP Study on the Combining Ability of Corn Leaf Angular Traits - ......................................................... · Su Shuwen Bai Lailin Guo Xinlin (1) Breeding of maize in Shandong province is impressive ............ ........................................................................................ Liu Zhixian (5) Double-column analysis of anti-vertical tension of corn root - .............................. ............ Xu Ming Feng
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电应力作用下,栅氧化层受到损伤,表现为栅氧化层内陷阱电荷密度及界面态密度的增加。撤除电应力后,陷阱电荷因被俘获电荷的退陷(detrapping)而减少。界面态密度也会自行减少。该文讨论这种栅
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