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银膜的性能和厚度直接影响诱导透射滤光片（简称ＩＴＦ）的性能和指标。在设计在镀制ＩＴＦ时，确定适当的银膜厚度尤为重要。本文的主要工作是：用结构分析和光谱分析法，得到在衬底温度１００℃时，膜厚大于２５ｎｍ的银膜呈多晶状态，且其结构接近于大块银料。首次确定出用于ＩＦ各银膜的下限厚度为３２ｎｍ，并给出了镀制过程中理论监控曲线和实测监控曲线。