全光纤双窗口高分辨率延时自外差测谱系统

来源 :北京邮电学院学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：zhihong0223

【摘要】

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本文介绍了一种新型全光纤双窗口高分辨率延时自外差测谱系统,其分辨率为15kHz,灵敏度优于一14.5 dB,应用该系统,我们对1.5μm 和1.3μm 波段带隔离器窄线宽半导体激光器进行

【作者】

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吴铁惠荣庆

【机构】

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北京邮电学院无线电工程系,北京邮电学院无线电工程系

【出处】

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北京邮电学院学报

【发表日期】

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1990年2期

【关键词】

：

外差光谱测谱系统半导体激光器 semiconductor laser spectroscopy applied optics

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本文介绍了一种新型全光纤双窗口高分辨率延时自外差测谱系统,其分辨率为15kHz,灵敏度优于一14.5 dB,应用该系统,我们对1.5μm 和1.3μm 波段带隔离器窄线宽半导体激光器进行了测试,线窄分别为900 kHz 和4 MHz.线宽-功率采积分别为586 kHz·mW 和22 MHz·mW.这些结果和理论计算结果相吻合.

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