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测量了室温下三元GaxIn1-xP(x=0.48)和四元(AlxGa1-x)0.51In0.49P(x=0.29)合金背散射配置下的喇曼光谱。三元GaxIn1-xP的喇曼谱表现为双模形式,在DALA带上叠加了FLA模,在有序样品中观察到了类GaP的TO1横和类InP的TO2模,类GaP的LO1模和类InP的LO2模的分裂,表示有序度的b/a比从无序样品的0.40变化到有序样品的0.10,有序样品b