Sn—C60薄膜的紫外吸收光谱和X—射线衍射谱分析

• 作 者: 伍春燕 钟韶 陈易明 张海燕 何艳阳 朱燕娟
• 机 构: 广东工业大学应用物理系
• 出 处: 光谱学与光谱分析
• 发表日期: 2002年3期
• 关键词: Sn-C60薄膜 紫外可见吸收光谱 电子跃迁 X-射线衍射 富勒烯 碳60 锡 掺杂 测量 UV-Vis absorption spectrum electr

对Sn-C60薄膜进行紫外可见光吸收、X-射线衍射和扫描电镜的测量结果显示,薄膜样品紫外可见光吸收的两个短波段吸收峰比纯C60薄膜的吸收峰显著下降,说明Sn-C60薄膜的电子光吸收跃迁为间接跃迁,能带中有杂质能级的存在;样品的X射线衍射峰则对应于面心立方结构;扫描电镜结果显示薄膜为纳米级颗粒组成.