萃取法富集XRF光谱测定岩石,土壤中的痕量元素

• 作 者: 李敏 陈远盘 苏惠娴
• 机 构: 北京农学院,中国有色金属工业总公司矿产地质研究院
• 出 处: 光谱学与光谱分析
• 发表日期: 1992年3期
• 关键词: 岩石 土壤 萃取富集 痕量元素 XRF XRFS Rocks and soils Extraction preconcentration Trace elem

本文研究了用10%N₇₄₀₂-MIBK萃取预富集,以XRFS测定岩石、土壤中Pb、Zn、Cu、Cd、Mo、Bi、Sn等痕量元素的方法,并研究了背景对检出限的影响,选Sm作内标。确定了样品分解,薄样制备方法和测定条件,检出限较直接粉末压片法约降低两个数量级,精密度通常优于4%,本法分析结果与标样推荐值吻合。