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叙述了钽电解电容器阳极Ta2O5介质膜的形成过程，分析了电解液闪火与氧化膜击穿的微观过程。利用扫描电子显微镜（SEM）分析了阳极氧化后及产品失效后阳极钽芯表面介质膜的微观结构，并对液钽电容器失效机理进行了探讨。结果表明，介质膜内杂质或缺陷处O^2-放电产生的电子发射是电解液闪火和氧化膜击穿的前驱点；在高电场或高温度的作用下，介质膜的场致晶化和热致晶化是液体钽电解电容器失效的主要模式。