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<正> 本文以前文为基础测定了不同氟化剂存在下杂质元素的蒸发率,计算了弧温、电子密度以及杂质元素的电离度,研究了影响元素谱线强度的诸因素,用晶体X射线衍射分析了电极反应残留物,提出了氟化反应的机理,并通过热力学计算予以说明。 1实验部分 1.1 仪器及主要工作条件 HILGER WATTS大型棱镜摄谱仪,直流电弧光源,电流10