论文部分内容阅读
该文主要探讨接触电阻对CRD产品芯片电参数测试的影响。VK参数是CRD产品的一个重要参数,反映CRD产品恒流起始电压特性。基于CRD产品应用中出现的异常,通过芯片恒流特性扫描和模拟验证,剖析芯片测试中接触电阻存在的危害,针对问题点采取相应的测试解决方案。新方案对CRD产品芯片电参数测试的稳定性和准确性具有较高的参考意义。