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目的比较研究烤瓷烧结的每一环节对金瓷固定桥边缘适合性所产生的影响。方法制取下颌第一磨牙缺失的双端固定桥代型15个,在其上方制作Ni-Cr金属支架,依次对每一支架进行预氧化、上第一次遮色瓷、第二次遮色瓷、体瓷、釉瓷等热处理,每次烧结后均将试件就位于代型上用体视显微镜测量其边缘浮升量,比较各步处理对金瓷固定桥边缘适合性的影响。结果两基牙在预氧化处理后边缘浮升量分别增加（14.74±4.31）μm（下颌5）和（15.04±2.95）μm（下颌7）,较预氧化前相比差异具有统计学意义（P〈0.0