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提出了一种集成电路芯片的硅调试设计方案．采用具有短链扫描结构的扫描链复用方法，以提高对芯片触发器类信息的读写速度，为存储器内建自测试（MBIST）控制器增加异步通信调试接口，以提高静态存储器类信息的访问速度，同时，简化了MBIST控制器的物理设计难度．结果表明，所提出的硅调试设计方法可以降低硬件资源的消耗，使得调试软件设计的难度和复杂度显著降低，并使得硅调试的相关操作更加简便．