半导体分立器件内部水汽含量试验程序

• 作 者: 耿宁宁
• 机 构: 济南市半导体元件实验所,
• 出 处: 科技致富向导
• 发表日期: 2014年27期
• 关键词: 试验程序 水汽含量 半导体分立器件 试验设备 标准试验 刺穿 真空箱 湿度传感器 非破坏性试验 校准点

水汽含量试验设备应符合的要求试验程序的详细步骤和器件拒收标准试验注意事项。

Water vapor content test equipment should meet the requirements of the detailed steps of the test procedure and device rejection criteria for test considerations.